HCJD—3000高頻介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品型號：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-04-18

產(chǎn)品簡介：

高頻介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。HCJD—3000高頻介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測

HCJD—3000高頻介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品簡介

高頻介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關、學校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。 HCJS-A高頻介損及介電常數(shù)測

二、規(guī)格

型號	HCJDCS-B	HCJDCS-A	HCJDCS-C
工作頻率范圍	50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器	1kHz～70MHz 四位數(shù)顯，數(shù)字合成	50kHz～160MHz 四位數(shù)顯，數(shù)字合成
Q值測量范圍	1～1000 三位數(shù)顯，±1Q分辨率	5～599 四位數(shù)顯，±0.1Q分辨率	1～1000 四位數(shù)顯，±0.1Q分辨率
可調(diào)電容范圍	40～500 pF ΔC±3pF	40～500 pF ΔC±3pF	13～230 pF
電容測量誤差	±1%±1pF	±1%±1pF	±1%±0.5pF
Q表殘余電感值	約20nH	約20nH	約8nH

1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
c．標稱誤差

頻率范圍	25kHz～10MHz
固有誤差	≤5％±滿度值的2%
工作誤差	≤7％±滿度值的2%
頻率范圍	10MHz～60MHz
固有誤差	≤6％±滿度值的2%
工作誤差	≤8％±滿度值的2%

2．電感測量范圍：14.5nH～8.14H
電容測量:

直接測量范圍	1～460p
主電容調(diào)節(jié)范圍	40～500pF
度	150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%

注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
c．標稱誤差

頻率范圍	25kHz～10MHz
固有誤差	≤5％±滿度值的2%
工作誤差	≤7％±滿度值的2%
頻率范圍	10MHz～60MHz
固有誤差	≤6％±滿度值的2%
工作誤差	≤8％±滿度值的2%

2．電感測量范圍：14.5nH～8.14H
電容測量:

直接測量范圍	1～460p
主電容調(diào)節(jié)范圍	40～500pF
度	150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%

注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

信號源頻率覆蓋范圍

頻率范圍	10kHz～60MHz
CH1	10～99.9999kHz
CH2	100～999.999kHz
CH3	1～9.99999MHz
CH4	10～60MHz
頻率指示誤差	3×10-5±1個字

5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000
6．正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。

HCJD—3000高頻介電常數(shù)測試儀