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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試

產(chǎn)品型號(hào):

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2023-07-04

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可高的精度連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測(cè)

絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可高的精度連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn):JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

高精測(cè)量

開(kāi)發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式,配備標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量?jī)x表,與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),操作簡(jiǎn)便安全。

應(yīng)力電壓范圍廣泛

標(biāo)配100V應(yīng)力電壓(應(yīng)力電壓/測(cè)量電壓),有300V、500V高電壓規(guī)格備選。

連續(xù)通電掃描方式

具有掃描動(dòng)作技術(shù),切換掃描時(shí)不發(fā)生無(wú)電壓狀態(tài),測(cè)量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制,可控制電壓。

漏電流檢測(cè)功能

高速捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化,離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

統(tǒng)計(jì)軟件

可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)。

連接樣件夾具

選配可使連接樣品及線纜方便,試驗(yàn)效率高。

公司主營(yíng)產(chǎn)品:

      幾大系列:介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀(電壓擊穿試驗(yàn)儀)、表面體積電阻率測(cè)度儀、電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)、薄膜沖擊試驗(yàn)機(jī)、落錘式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)、馬丁耐熱試驗(yàn)儀、熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀、軟磁交流測(cè)試系統(tǒng)、軟磁直流測(cè)試系統(tǒng)、納米犬分析測(cè)試儀、多功能精密電池測(cè)試分析儀、霍尼韋爾便攜氣體檢測(cè)儀、復(fù)合氣體檢測(cè)儀、便攜式氧氣檢測(cè)儀、臭氧檢測(cè)儀、防水型二氧化氯檢測(cè)儀、硫化氫檢測(cè)報(bào)警器、液化氣檢測(cè)報(bào)警、電動(dòng)自行車電池、無(wú)線傳感器電池、電動(dòng)汽車電池、礦燈電池、儲(chǔ)能電池等產(chǎn)品。

絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試

絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試



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